Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Physical Measurement and Analysis of Thin Films
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Dettagli
- Anno di pubblicazione
- 1969
- Luogo di stampa
- New York
- Autore
- Murt, E.M., Guldner, W.G., Ed.
- Editori
- Plenum Publishing
- Formato
- 23.75 cm.
- Edizione
- First Edition
- Soggetto
- Science
- Stato di conservazione
- Buono
- Lingue
- Inglese
- Legatura
- Rilegato
- Prima edizione
- True
Descrizione
- Hardcover, good condition, w. ltly compressed spine. badly bumped r. top corner, 3 ltly bumped corners. Damp stain on r. brd. Creaky fr. hinge. Ltly tanned p. edges, eps. clean, tight, unmarked. Dj good, some lt soil, somewhat rubbed. Ltly tanned sp. da
ISBN: B000FML0N4