Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Physical Measurement and Analysis of Thin Films
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Detalles
- Año de publicación
- 1969
- Lugar de impresión
- New York
- Autor
- Murt, E.M., Guldner, W.G., Ed.
- Editores
- Plenum Publishing
- Formato
- 23.75 cm.
- Edición
- First Edition
- Materia
- Science
- Conservación
- Bueno
- Idiomas
- Inlgés
- Encuadernación
- Tapa dura
- Primera edición
- True
Descripción
- Hardcover, good condition, w. ltly compressed spine. badly bumped r. top corner, 3 ltly bumped corners. Damp stain on r. brd. Creaky fr. hinge. Ltly tanned p. edges, eps. clean, tight, unmarked. Dj good, some lt soil, somewhat rubbed. Ltly tanned sp. da
ISBN: B000FML0N4